把U盘放进抽屉，6年不管，你觉得里面的数据还在吗？

有人做了一个长期测试：2019年底，一次性买了 10 个 32GB 的 U盘，写入随机数据后就放进抽屉。此后按计划每隔几年取出一个读取验证。
目前进行到第6年，已测试的U盘全部正常，没有出现任何数据损坏。

这个实验，准备进行27年！

U盘可靠性实验

这是发布在 reddit/数据囤积者 上的帖子，作者 vanceza 同时也写在了博客中。

实验目的

U盘在“长期断电、不使用”的情况下，数据能保存多久

试验设备

具体为：Kingston Digital DataTraveler SE9 32GB USB 2.0 Flash Drive (DTSE9H/32GBZ)

• 型号 DTSE9H/32GBZ
• 条形码 740617206432
• WO# 8463411X001
• ID 2364
• bl 1933
• 序列号206432TWUS008463411X001005

实验内容：错峰读取

实验采用一种“错峰读取”的方式，实验第一天就用随机数据，写满10个 U盘，存放在抽屉中。

• 到指定年份，拿出一个U盘进行读取测试（checksum 校验）
• 同时对较早测试过的U盘进行复测
• 每次读取后，会把数据重新写入（刷新）
• 测试年份：1, 2, 3, 4, 6, 8, 11, 15, 20, 27

完整计划

年份	首次测试（关键样本）	复测并重写的U盘	说明
1	1	—	第1号盘：1年样本
2	2	1	第2号盘：2年样本
3	3	1,2	第3号盘：3年样本
4	4	1,2,3	第4号盘：4年样本
5	—	1,2,3	无新样本
6	5	1,2,3,4	第5号盘：6年样本
7	—	1,2,3	无新样本
8	6	1,2,3,4,5	第6号盘：8年样本
9	—	1,2,3	无新样本
10	—	1,2,3,4,5,6	无新样本
11	7	1,2,3	第7号盘：11年样本
12	—	1,2,3,4,5,6	无新样本
13	—	1,2,3	无新样本
14	—	1,2,3,4,5,6	无新样本
15	8	1,2,3,7	第8号盘：15年样本
16	—	1,2,3,4,5,6	无新样本
17	—	1,2,3	无新样本
18	—	1,2,3,4,5,6	无新样本
19	—	1,2,3,7,8	无新样本
20	9	1,2,3,4,5,6	第9号盘：20年样本
21	—	1,2,3	无新样本
22	—	1,2,3,4,5,6	无新样本
23	—	1,2,3,7,8	无新样本
24	—	1,2,3,4,5,6	无新样本
25	—	1,2,3	无新样本
26	—	1,2,3,4,5,6	无新样本
27	10	1,2,3,7,8	第10号盘：27年样本
28	—	1,2,3,4,5,6,9	无新样本

实验结果

实验从2019年11月开始，作者在2026年1月发布了第6年的实验结果：

年份	首次测试U盘 序号	对应闲置时间	首次测试结果	复测U盘	复测结果	是否发现bit rot
1	1	1年	正常	—	—	否
2	2	2年	正常	1	正常	否
3	3	3年	正常	1,2	正常	否
4	4	4年	正常	1,2,3	正常	否
5	—	—	—	1,2,3	正常	否
6	5	6年	正常	1,2,3,4	正常	否

目前看起来，U盘放6年，没有任何问题。

复测U盘

在实验过程中，有一个复测并重写阶段，可以理解为：

该U盘已经完成任务（限制N年不通电，是否可读取），此后是新任务：当作普通U盘使用，用于持续读写和稳定性验证。

一个建议

另外注意：U盘里的数据，本质上是靠“电荷”存储在闪存单元中的。随着时间推移，这些电荷会慢慢泄漏，原本表示“0”和“1”的电压差逐渐变小。

当这种差异小到一定程度，控制器就可能读错数据，于是就出现了所谓的 bit rot（位错误）。

除了时间：

• 温度越高，泄漏速度越快
• 擦写次数越多 → 存储单元老化越严重

所以，隔几年把U盘拿出来读写一次，以防数据丢失。

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原文：https://www.appinn.com/usb-flash-drive-data-retention-6-years/